金屬成分檢測儀_鋼鐵牌號分析儀特點

X射線熒光光譜儀的特征是波長非常短，頻率很高，其波長約為（20～0.06）×10-8厘米之間。因此X射線必定是由于原子在能量相差懸殊的兩個能級之間的躍遷而產(chǎn)生的。所以X射線光譜是原子中zui靠內(nèi)層的電子躍遷時發(fā)出來的，而光學光譜則是外層的電子躍遷時發(fā)射出來的。X射線在電場磁場中不偏轉(zhuǎn)。這說明X射線是不帶電的粒子流，因此能產(chǎn)生干涉、衍射現(xiàn)象。

 X射線熒光光譜儀的X射線譜由連續(xù)譜和標識譜兩部分組成 ，標識譜重疊在連續(xù)譜背景上，連續(xù)譜是由于高速電子受靶極阻擋而產(chǎn)生的 軔致輻射，其短波極限λ 0 由加速電壓V決定：λ 0 = hc /( ev )為普朗克常數(shù)，e為電子電量，c為真空中的光速。標識譜是由一系列線狀譜組成，它們是因靶元素內(nèi)層電子的躍遷而產(chǎn)生，每種元素各有一套特定的標識譜，反映了原子殼層結(jié)構(gòu) 。同步輻射源可產(chǎn)生高強度的連續(xù)譜X射線，現(xiàn)已成為重要的X射線源。

江蘇天瑞儀器股份有限公司是專業(yè)生產(chǎn)光譜、色譜、質(zhì)譜等分析測試儀器及其軟件的研發(fā)、生產(chǎn)和銷售一體型企業(yè)。天瑞EDX4500H,EDX2000H,EDX1800BS,EDX3600H,OES系列儀器是測合金元素成分檢測儀,專門研發(fā)測試合金成分分析.測試過程校準，保證測量精度，內(nèi)置多條曲線，可滿足多種元素的分析需要。 X熒光光譜儀是利用XRF檢測原理實現(xiàn)對各種元素成份進行快速、準確、無損分析。該儀器的主要特征是利用智能真空系統(tǒng)，可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果，利用XRF技術(shù)可對高含量的Cr、Ni、Mo等重點關(guān)注的元素進行成分分析，在冶煉過程控制中起到了測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率的作用。另外，在合金分析、全元素分析、有害元素檢測應用上也十分廣泛。

金屬成分檢測儀_鋼鐵牌號分析儀應用領(lǐng)域

固廢快速檢測

地礦與合金（銅、不銹鋼等）成分分析

金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定

黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測

主要用于固廢行業(yè)、貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行、首飾銷售和檢測機構(gòu)；電鍍行業(yè)

下照式：可滿足各種形狀樣品的測試需求

準直器和濾光片：多種準直器和濾光片的電動切換，滿足各種測試方式的應用

移動平臺：精細的手動移動平臺，方便定位測試點

高分辨率探測器：提高分析的準確性

新一代的高壓電源和X光管：性能穩(wěn)定可靠，實現(xiàn)更高的測試效率

元素分析范圍：磷（P）～鈾（U）

檢出限：1ppm

分析含量：ppm～99.99％

任意多個可選擇的分析和識別模型

相互獨立的基體效應校正模型

多變量非線性回歸程序

環(huán)境溫度：15℃～30℃

電源：交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源

能量分辨率：144±5eV

樣品腔尺寸：439mm×300mm×50mm

儀器尺寸：550mm×410mm×320mm

儀器重量：45kg

移動樣品平臺

信噪比增強器

SDD探測器