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使用膜厚測(cè)試儀時(shí)要遵守以下規(guī)定

更新時(shí)間:2022-11-10   點(diǎn)擊次數(shù):515次
  膜厚測(cè)試儀是對(duì)漆膜厚度測(cè)量的精密檢測(cè)儀器。從測(cè)量原理、測(cè)厚儀品牌、適用基材等方面,它可分為很多不同的種類,不同測(cè)厚儀結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)不同,在測(cè)量方法上也是不同的。
 
  膜厚測(cè)試儀測(cè)量時(shí)在空中按開機(jī)鍵開機(jī),然后聽到“bi”的一聲,漆膜測(cè)厚儀進(jìn)入測(cè)量狀態(tài),每次開機(jī)默認(rèn)單次測(cè)量狀態(tài);將探頭輕壓到有涂層的金屬基底上,測(cè)厚儀發(fā)出bibi兩聲,顯示被測(cè)涂層厚度值n;按MODE鍵,可選擇測(cè)量方式,有單次測(cè)量、連續(xù)測(cè)量、差值測(cè)量三種測(cè)量方式可供選擇;按UNIT鍵,可選擇測(cè)量單位,可選mm,mil。
 
  我們?cè)谑褂媚ず駵y(cè)試儀時(shí)應(yīng)遵守相關(guān)規(guī)定:
 
  1、基體金屬特性
 
  對(duì)于磁性方法,標(biāo)準(zhǔn)片的基體金屬的磁性和表面粗糙度,應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似;
 
  對(duì)于渦流方法,標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的電性質(zhì),應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。
 
  2、基體金屬厚度:檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度,如果沒有,可采用其它方法進(jìn)行校準(zhǔn)。
 
  3、邊緣效應(yīng):不應(yīng)在緊靠試件的突變處,如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進(jìn)行測(cè)量。
 
  4、曲率:不應(yīng)在試件的彎曲表面上測(cè)量。
 
  5、讀數(shù)次數(shù):通常由于儀器的每次讀數(shù)并不*相同,因此必須在每一測(cè)量面積內(nèi)取幾個(gè)讀數(shù)。覆蓋層厚度的局部差異,也要求在任一給定的面積內(nèi)進(jìn)行多次測(cè)量,表面粗造時(shí)更應(yīng)如此。
 
  6、表面清潔度:測(cè)量前應(yīng)清除表面上的任何附著物質(zhì),如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等,但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。

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18926776507
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